Ce:YAG — важны сцынтыляцыйны крышталь

Ce:YAG — важны сцынтыляцыйны крышталь з выдатнымі сцынтыляцыйнымі характарыстыкамі. Ён мае высокую светлавую эфектыўнасць і шырокі аптычны імпульс. Найбольшай перавагай з'яўляецца тое, што яго цэнтральная даўжыня хвалі люмінесцэнцыі складае 550 нм, што можа быць эфектыўна спалучана з абсталяваннем для выяўлення, такім як крэмніевыя фотадыёды. У параўнанні са сцынтыляцыйным крышталем CsI, сцынтыляцыйны крышталь Ce:YAG мае хуткі час затухання, а сцынтыляцыйны крышталь Ce:YAG не мае расплывістасці, высокай тэмпературнай устойлівасці і стабільных тэрмадынамічных характарыстык. Ён у асноўным выкарыстоўваецца для выяўлення светлавых часціц, выяўлення альфа-часціц, выяўлення гама-прамянёў і іншых галінах. Акрамя таго, ён таксама можа быць выкарыстаны ў электроннай дэтэкцыйнай візуалізацыі (SEM), мікраскапічнай візуалізацыі з высокім разрозненнем, флуарэсцэнтным экране і іншых галінах. З-за малога каэфіцыента сегрэгацыі іонаў Ce ў матрыцы YAG (каля 0,1) цяжка ўключыць іоны Ce ў крышталі YAG, і цяжкасць росту крышталяў рэзка ўзрастае з павелічэннем дыяметра крышталя.
Монакрышталь Ce:YAG — гэта хуткараспадаючы сцынтыляцыйны матэрыял з выдатнымі комплекснымі ўласцівасцямі, з высокай светлавой аддачай (20000 фатонаў/МэВ), хуткім свячэннем (~70 нс), выдатнымі тэрмамеханічнымі ўласцівасцямі і пікавай даўжынёй хвалі свячэння (540 нм). Ён добра супадае з адчувальнай даўжынёй хвалі звычайнага фотаэлектроннага памнажальніка (ФЭП) і крэмніевага фотадыёда (ФД), добры светлавы імпульс адрознівае гама-прамяні і альфа-часціцы, Ce:YAG падыходзіць для выяўлення альфа-часціц, электронаў і бэта-прамянёў і г.д. Добрыя механічныя ўласцівасці зараджаных часціц, асабліва монакрышталя Ce:YAG, дазваляюць атрымліваць тонкія плёнкі таўшчынёй менш за 30 мкм. Сцынтыляцыйныя дэтэктары Ce:YAG шырока выкарыстоўваюцца ў электроннай мікраскапіі, бэта- і рэнтгенаўскім падліку, электронных і рэнтгенаўскіх візуалізацыйных экранах і іншых галінах.