Ce:YAG — важны сцынтыляцыйны крышталь

Ce:YAG з'яўляецца важным сцинтилляционным крышталем з выдатнымі сцинтилляционными характарыстыкамі. Ён мае высокую святлоаддачу і шырокі аптычны імпульс. Самая вялікая перавага ў тым, што яго цэнтральная даўжыня хвалі люмінесцэнцыі складае 550 нм, што можа быць эфектыўна спалучана з абсталяваннем для выяўлення, такім як крамянёвыя фотадыёды. У параўнанні са сцынтыляцыйным крышталем CsI, сцынтыляцыйны крышталь Ce:YAG мае хуткі час згасання, а сцынтыляцыйны крышталь Ce:YAG не мае расплаўлення, устойлівы да высокай тэмпературы і мае стабільныя тэрмадынамічныя характарыстыкі. Ён у асноўным выкарыстоўваецца для выяўлення часціц святла, альфа-часціц, выяўлення гама-прамянёў і ў іншых галінах. Акрамя таго, ён таксама можа быць выкарыстаны ў візуалізацыі з выяўленнем электронаў (SEM), мікраскапічным люмінесцэнтным экране з высокім дазволам і ў іншых галінах. З-за малога каэфіцыента сегрэгацыі іёнаў Се ў матрыцы YAG (каля 0,1) цяжка ўключыць іёны Се ў крышталі YAG, і цяжкасць росту крышталяў рэзка ўзрастае з павелічэннем дыяметра крышталя.
Монакрышталь Ce:YAG з'яўляецца хуткараспадаючым сцынтыляцыйным матэрыялам з выдатнымі комплекснымі ўласцівасцямі, з высокай святлоаддачай (20000 фатонаў/МэВ), хуткім распадам святла (~70 нс), выдатнымі тэрмамеханічнымі ўласцівасцямі і пікавай даўжынёй хвалі святла (540 нм). узгадняецца з прыёмнай адчувальнай даўжынёй хвалі звычайнага фотаўмножальніка (ФЭУ) і крамянёвага фотадыёда (ФД), добры светлавы імпульс адрознівае гама-прамяні і альфа-часціцы, Ce:YAG падыходзіць для выяўлення альфа-часціц, электронаў і бэта-прамянёў і г. д. Добры механічны ўласцівасці зараджаных часціц, асабліва монакрышталяў Ce:YAG, дазваляюць атрымліваць тонкія плёнкі таўшчынёй менш за 30 мкм. Сцынтыляцыйныя дэтэктары Ce:YAG шырока выкарыстоўваюцца ў электроннай мікраскапіі, падліку бэта- і рэнтгенаўскіх прамянёў, электронных і рэнтгенаўскіх малюнкаў на экранах і ў іншых галінах.